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YUSH Electronic Technology Co.,Ltd
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Sistema de inspecção por raios-X de microfoco de alta qualidade e alta eficiência

Detalhes do produto

Lugar de origem: Guangdong

Marca: YUSH

Número do modelo: YS-X6600

Termos de pagamento e envio

Quantidade de ordem mínima: 1

Preço: USD43000

Tempo de entrega: 20 dias de trabalho

Termos de pagamento: L/C,D/A,D/P,T/T,Western Union

Habilidade da fonte: 1000

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Destacar:

Sistema de inspeção do raio X de Microfocus

,

Equipamento automático de inspecção por raios-X

,

Sistema de raios-X de elevada eficiência

Tensão do tubo:
40-90kV
Corrente do tubo:
10-200uA (software limitado a 89uA)
Área da imagem latente:
130 mm*130 mm
Precisão de teste repetido:
3μm
Tensão do tubo:
40-90kV
Corrente do tubo:
10-200uA (software limitado a 89uA)
Área da imagem latente:
130 mm*130 mm
Precisão de teste repetido:
3μm
Sistema de inspecção por raios-X de microfoco de alta qualidade e alta eficiência
Sistema de inspecção por raios-X de microfoco de alta qualidade e alta eficiência
Função

O tubo de raios-X e o detector podem mover-se na direção Z. A velocidade da mesa se movendo na direção X-Y pode ser ajustada.

  • Detector digital de alta definição
  • Ângulo de inclinação máximo é 60°, as amostras podem ser observadas com uma perspectiva única
  • Pode ser detectada uma falha inferior a 2,5 μm
  • Alta precisão de repetição da detecção
  • Função de medição CNC potente, pode testar automaticamente, programa de teste pode ser editado
  • Grande espaço de inspecção, pode colocar várias amostras de grande porte
  • A mesa pode carregar 10 kg de itens.
  • Grande visualização de navegação, a tabela irá se mover para onde você clicar no mouse
Sistema de inspecção por raios-X de microfoco de alta qualidade e alta eficiência 0
Vantagens
  • Maior faixa de detecção eficaz, melhorando a ampliação e a eficiência de detecção do produto
  • Fácil de identificar os defeitos laterais do produto e não conseguir detecção de ângulo morto
  • Fácil de distinguir a dobra e quebra do fio de ouro do pacote de semicondutores
  • Adequado para inspecção em larga escala e melhorar a eficiência da detecção
  • Grande mesa para grandes placas de controlo industriais, tiras de LED ultra longas e produtos eletrónicos para vários campos
  • Muito fácil de operar, encontrar rapidamente defeitos do item e melhorar a eficiência de detecção
Sistema de inspecção por raios-X de microfoco de alta qualidade e alta eficiência 1
Especificações técnicas
Especificações Valor
Tamanho do ponto focal 5-15 μm
Ângulo de inclinação 0-60°
Matriz de pixels 1536*1536 pixels
Área de inspecção efectiva 500 mm × 420 mm
Capacidade de carga ≤ 5 kg